ข่าวสาร

ข่าวประชาสัมพันธ์

DentiiScan ได้รับการรับรองมาตรฐาน ISO13485

เมื่อวันที่ 3 พฤษภาคม 2559 ศาสตราจารย์ ดร.ไพรัช ธัชยพงษ์ ที่ปรึกษาอาวุโส สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ หรือ สวทช. ในฐานะผู้อำนวยการโครงการวิจัยและพัฒนาเครื่องเอกซเรย์คอมพิวเตอร์สำหรับงานทันตกรรม (DentiiScan) ได้รับมอบใบรับรองมาตรฐาน ISO 13485:2003 Certification : ระบบบริหารคุณภาพสำหรับการผลิตเครื่องมือแพทย์ตามมาตรฐานISO13485 สำหรับเครื่องDentiiScan ในส่วนการผลิต การวิจัยและพัฒนา และการให้บริการProduct scope: Design and Manufacture of Dental Computed Tomography (Dental CT) โดยมี ดร.ศรัณย์ สัมฤทธิ์เดชขจร ผู้อำนวยการศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ หรือเนคเทค ทีมนักวิจัยพัฒนาในโครงการวิจัยและพัฒนาเครื่องเอกซเรย์คอมพิวเตอร์สำหรับงานทันตกรรม (DentiiScan) ซึ่งเป็นทีมวิจัยร่วมกันระหว่างเนคเทคและเอ็มเทค ได้ร่วมเป็นเกียรติในการรับมอบใบรับรองมาตรฐาน ISO 13485:2003 ในครั้งนี้ ดูข้อมูลเพิ่มเติมได้ที่ https://www.facebook.com/dentiiscan

ผู้แทนประเทศสมาชิกG77 เยี่ยมชมดูงานที่ เนคเทค/สวทช.

คณะผู้เชี่ยวชาญจากประเทศสมาชิกกลุ่ม 77 เยี่ยมชมดูงานด้านการใช้วิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี เพื่อส่งเสริมการพัฒนาเศรษฐกิจและสังคม วันพุธที่ 2 มีนาคม 2559 ณ อุทยานวิทยาศาสตร์ประเทศไทย สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ (สวทช.) กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี ต้อนรับคณะผู้เชี่ยวชาญจากประเทศสมาชิกกลุ่ม 77 เยี่ยมชมดูงานด้านการใช้วิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี เพื่อส่งเสริมการพัฒนาเศรษฐกิจและสังคม โดยมีดร. ชฎามาศ ธุวะเศรษฐกุล รองผู้อำนวยการสวทช. และดร. ศรัณย์ สัมฤทธิ์เดชขจร ผู้อำนวยการเนคเทค สวทช. และผู้บริหารและทีมนักวิจัยร่วมให้การต้อนรับ คณะที่เยี่ยมชม นำโดยคุณมรกต ศรีสวัสดิ์ รองอธิบดีกรมองค์การระหว่างประเทศ กระทรวงการต่างประเทศ ในฐานะหน่วยงานประสานงานฝ่ายไทยที่ให้การรับรองคณะฯ ในระหว่างการเดินทางมาประเทศไทยเพื่อเข้าร่วมการประชุม G77 Meeting of Experts on ICT and Sustainable Development for South-South Cooperation ได้รับฟังการบรรยายเกี่ยวกับหน้าที่และบทบาทของสวทช. ในการร่วมขับเคลื่อนการพัฒนาด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีของประเทศ ผ่านการวิจัยพัฒนา การถ่ายทอดเทคโนโลยี

สมเด็จพระเทพฯ เสด็จพระราชดำเนินเปิดอาคารผลิตไฟฟ้าเซลล์แสงอาทิตย์

เมื่อวันที่ ๒๔ กุมภาพันธ์ ๒๕๕๙ สมเด็จพระเทพรัตนราชสุดาฯ สยามบรมราชกุมารี ทรงเปิดแพรคลุมป้ายอาคารผลิตไฟฟ้าเซลล์แสงอาทิตย์ผสมผสานกับเครื่องยนต์ดีเซล ณ สถาบันเทคโนโลยีกำปงเฌอเตียล จ.กำปงธม ราชอาณาจักรกัมพูชา โดยมี ฯพณฯ ดร.ฮ็อง จวน ณารน รัฐมนตรีว่าการกระทรวงศึกษาธิการ เยาวชนและการกีฬา ราชอาณาจักรกัมพูชา ศาสตราจารย์ ดร.ไพรัช ธัชยพงษ์ ที่ปรึกษาอาวุโส สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ (สวทช.) นายสรัญ รังคสิริ ประธานเจ้าหน้าที่ปฏิบัติการกลุ่มปิโตรเลียมขั้นปลาย บริษัท ปตท. จำกัด (มหาชน) พลเอกณรงค์ แสงชนะศึก รองสมุหราชองครักษ์ กรมราชองครักษ์ ดร.ศรัณย์ สัมฤทธิ์เดชขจร ผู้อำนวยการศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ (เนคเทค) นางกุลประภา นาวานุเคราะห์ ผู้ช่วยผู้อำนวยการสำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ (สวทช.) เฝ้ารับเสด็จฯ ศาสตราจารย์ ดร.ไพรัช ธัชยพงษ์ กราบบังคมทูลเชิญสมเด็จพระเทพรัตนราชสุดาฯ สยามบรมราชกุมารี

เปิดขีดความสามารถ ชิปขยายสัญญาณรามาน NECTEC SERS Chips

เนคเทคเปิดตัวชิปเพิ่มประสิทธิภาพการตรวจวัดร่องรอยสารเคมี ด้วยอัตราการขยายสัญญาณสูงกว่าผลิตภัณฑ์เดียวกันในท้องตลาด 100 เท่าแต่ต้นทุนต่ำกว่า ผลักดันงานวิจัยไทยสู่ตลาดโลก วันที่ 18 กุมภาพันธ์ 2559 ที่ผ่านมา ณ อาคารเนคเทค อุทยานวิทยาศาสตร์ประเทศไทย กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี โดย ดร.ศรัณย์ สัมฤทธิ์เดชขจร ผู้อำนวยการศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ (เนคเทค) กล่าวถึงนโยบายการนำเทคโนโลยีในประเทศมาใช้ในการพัฒนาประเทศที่สอดคล้องกับนโยบายของรัฐบาล เพื่อลดการนำเข้าจากต่างประเทศ ความพร้อมในการนำงานวิจัยไปใช้ภายในประเทศและทิศทางการพัฒนาต่อไปในอนาคต ร่วมด้วย ดร.นพดล นันทวงศ์ นักวิจัยจากห้องปฏิบัติการวิจัยเทคโนโลยีฟิล์มบางเชิงแสง และทีมนักวิจัยเนคเทค/ สวทช. โชว์ประสิทธิภาพชิปขยายสัญญาณรามาน (NECTEC SERS Chips) ที่สามารถนำไปประยุกต์ใช้งานได้หลากหลาย อาทิ การตรวจพิสูจน์สารตกค้างทางการเกษตร เช่น ยาฆ่าแมลง การตรวจพิสูจน์เชิงนิติวิทยาศาสตร์ เช่น สารเสพติด สารระเบิด หมึกปากกา และการตรวจพิสูจน์ทางการแพทย์ เช่น สารชีวโมเลกุล เป็นต้น มีผลงานตีพิมพ์ทางวิชาการและคำขอยื่นจดสิทธิบัตรรองรับโดยสมบูรณ์ ล่าสุดมีคำสั่งซื้อชิปจากต่างประเทศแล้ว ชิปขยายสัญญาณรามาน NECTEC