เปิดขีดความสามารถ ชิปขยายสัญญาณรามาน NECTEC SERS Chips
เนคเทคเปิดตัวชิปเพิ่มประสิทธิภาพการตรวจวัดร่องรอยสารเคมี ด้วยอัตราการขยายสัญญาณสูงกว่าผลิตภัณฑ์เดียวกันในท้องตลาด 100 เท่าแต่ต้นทุนต่ำกว่า ผลักดันงานวิจัยไทยสู่ตลาดโลก วันที่ 18 กุมภาพันธ์ 2559 ที่ผ่านมา ณ อาคารเนคเทค อุทยานวิทยาศาสตร์ประเทศไทย กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี โดย ดร.ศรัณย์ สัมฤทธิ์เดชขจร ผู้อำนวยการศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ (เนคเทค) กล่าวถึงนโยบายการนำเทคโนโลยีในประเทศมาใช้ในการพัฒนาประเทศที่สอดคล้องกับนโยบายของรัฐบาล เพื่อลดการนำเข้าจากต่างประเทศ ความพร้อมในการนำงานวิจัยไปใช้ภายในประเทศและทิศทางการพัฒนาต่อไปในอนาคต ร่วมด้วย ดร.นพดล นันทวงศ์ นักวิจัยจากห้องปฏิบัติการวิจัยเทคโนโลยีฟิล์มบางเชิงแสง และทีมนักวิจัยเนคเทค/ สวทช. โชว์ประสิทธิภาพชิปขยายสัญญาณรามาน (NECTEC SERS Chips) ที่สามารถนำไปประยุกต์ใช้งานได้หลากหลาย อาทิ การตรวจพิสูจน์สารตกค้างทางการเกษตร เช่น ยาฆ่าแมลง การตรวจพิสูจน์เชิงนิติวิทยาศาสตร์ เช่น สารเสพติด สารระเบิด หมึกปากกา และการตรวจพิสูจน์ทางการแพทย์ เช่น สารชีวโมเลกุล เป็นต้น มีผลงานตีพิมพ์ทางวิชาการและคำขอยื่นจดสิทธิบัตรรองรับโดยสมบูรณ์ ล่าสุดมีคำสั่งซื้อชิปจากต่างประเทศแล้ว ชิปขยายสัญญาณรามาน NECTEC SERS Chips ดำเนินการวิจัยและพัฒนาขึ้นด้วยเทคนิคการเคลือบฟิล์มขั้นสูงที่พัฒนาขึ้นเป็นพิเศษ โดยห้องปฏิบัติการวิจัยเทคโนโลยีฟิล์มบางเชิงแสง (Optical